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汽車電子元器件冷熱沖擊測試的標(biāo)準(zhǔn)解讀與實踐

更新時間:2025-06-09      瀏覽次數(shù):34

一、引言

在汽車產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下,汽車電子系統(tǒng)越發(fā)復(fù)雜,電子元器件作為其核心組成部分,需在嚴(yán)苛環(huán)境下穩(wěn)定運行。汽車行駛時,電子元器件面臨從極寒到酷熱的溫度巨變,如冬季低溫啟動、夏季暴曬后高溫,以及發(fā)動機(jī)艙內(nèi)溫度的快速波動等。冷熱沖擊測試模擬此類溫度變化,檢測電子元器件的可靠性與耐久性,對保障汽車安全、穩(wěn)定運行至關(guān)重要。
二、標(biāo)準(zhǔn)解讀
(一)國際標(biāo)準(zhǔn)
  1. IEC 60068 - 2 - 14:此標(biāo)準(zhǔn)是冷熱沖擊測試基礎(chǔ)規(guī)范。明確規(guī)定試驗溫度范圍,常見低溫沖擊 -40℃,高溫沖擊 85℃;溫度變化速率不低于 10℃/min;在高低溫極值處,停留時間不少于 30 分鐘;循環(huán)次數(shù)依元器件應(yīng)用場景與可靠性要求,在 5 - 100 次不等。其目的是確保不同實驗室測試結(jié)果可比,為汽車電子行業(yè)提供統(tǒng)一參照。

  1. ISO 16750 - 4:聚焦道路車輛電氣及電子設(shè)備環(huán)境條件與試驗。針對非發(fā)動機(jī)艙產(chǎn)品與發(fā)動機(jī)艙零部件,分別制定不同試驗程序。發(fā)動機(jī)艙零部件因發(fā)動機(jī)熄火后有余熱,測試加入極限高溫貯存考核,使測試更貼合實際工況。



(二)國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

  1. QC/T 1067 - 2017:專為汽車電氣零部件制定。對冷熱沖擊箱性能嚴(yán)格要求,如溫度均勻性、控制精度等,保證試驗環(huán)境精準(zhǔn)。在結(jié)果判定上,從外觀、電氣性能、機(jī)械性能多維度明確合格標(biāo)準(zhǔn),外觀不得有裂紋、變形、變色;電氣連接正常,絕緣性能不降低;機(jī)械部件運動靈活無卡滯。

  1. 企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn):各大車企在遵循國際、國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上,依自身產(chǎn)品特性與質(zhì)量目標(biāo)細(xì)化標(biāo)準(zhǔn)。部分企業(yè)在特定零部件測試中,增加濕度控制,模擬更復(fù)雜使用環(huán)境;或延長試驗時間、循環(huán)次數(shù),提升可靠性門檻,增強(qiáng)產(chǎn)品市場競爭力。

三、測試實踐
(一)測試準(zhǔn)備
  1. 樣品選擇:選取具有代表性汽車電子元器件,如發(fā)動機(jī)控制單元(ECU)、電子傳感器等。依據(jù)元器件尺寸、數(shù)量,選擇合適容積冷熱沖擊試驗箱,并確保試驗箱性能符合測試標(biāo)準(zhǔn)要求。

  1. 安裝與連接:將元器件按實際使用狀態(tài),牢固安裝在試驗夾具上,保證測試時位置穩(wěn)定。連接必要測試設(shè)備,如監(jiān)測 ECU 電氣參數(shù)的設(shè)備,確保能實時獲取測試數(shù)據(jù)。



(二)測試過程

  1. 設(shè)置參數(shù):以測試 ECU 為例,依標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置低溫沖擊 -40℃,高溫沖擊 120℃,溫度變化速率 15℃/min,高低溫極值處停留 60 分鐘,循環(huán) 50 次。測試過程中,實時監(jiān)測并記錄 ECU 電源電壓、信號輸入輸出電壓、內(nèi)部時鐘頻率等參數(shù)。

  1. 監(jiān)測與記錄:利用專業(yè)測試軟件,自動記錄各參數(shù)隨時間變化曲線。一旦參數(shù)超出允許范圍,立即標(biāo)記并深入分析。如測試中部分 ECU 樣品電源電壓波動異常,經(jīng)排查是電容在溫度沖擊下電容值漂移,以及引腳焊接處因熱脹冷縮出現(xiàn)微小裂紋所致。

(三)結(jié)果分析與改進(jìn)
  1. 失效分析:針對測試中發(fā)現(xiàn)的問題,從材料、結(jié)構(gòu)、工藝多方面分析。如傳感器在低溫沖擊后測量誤差增大,是熱敏電阻材料低溫下微觀結(jié)構(gòu)變化,影響溫度敏感性;密封膠老化開裂致濕氣侵入,影響電氣性能。

  1. 改進(jìn)措施:根據(jù)失效原因制定改進(jìn)方案。如更換溫度穩(wěn)定性好的電容、優(yōu)化 PCB 布局;選用低溫性能優(yōu)的熱敏電阻并特殊封裝,更換耐高低溫、抗老化密封膠,改進(jìn)密封工藝。改進(jìn)后再次測試,確保元器件性能達(dá)標(biāo)。

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