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Cassification
樣品準備:選取衛(wèi)星通信天線、星載計算機電路板、姿態(tài)控制陀螺儀、太陽能電池片等關鍵零部件,檢查外觀與初始性能參數(shù),確保樣品狀態(tài)良好。
低溫測試:將試驗箱溫度降至 -150℃并穩(wěn)定,保持 2 小時后,檢測零部件的機械結(jié)構(gòu)完整性、電子元件功能及材料低溫脆化情況。
高溫測試:升溫至 120℃穩(wěn)定后,持續(xù) 2 小時,觀察零部件的熱變形、材料軟化、電子元件高溫失效等問題。
快速溫變循環(huán)測試:設定溫度在 -150℃至 120℃間循環(huán),每次溫變間隔 30 分鐘,循環(huán) 20 次。測試過程中實時監(jiān)測零部件性能參數(shù),記錄功能異常數(shù)據(jù)。
四、測試結(jié)果與分析
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