高低溫試驗箱冷熱沖擊試驗機

高低溫試驗箱冷熱沖擊試驗機
適用于考核各種產(chǎn)品或材料及家用電器、儀器、儀表、元器件等電工電子、汽車、摩托車產(chǎn)品，在高溫、低溫、潮濕環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗，可供各種科研機構(gòu)及廠礦中心試驗室做可靠性試驗。

產(chǎn)品型號：TSD-100F-2P
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-03-21
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詳細介紹

高低溫試驗箱冷熱沖擊試驗機

設(shè)備安裝及環(huán)境條件：

1、室溫：≤+25℃

2、相對濕度：不大于85%R·H

3、大氣壓：86～106kPa

4、周圍無強烈振動

5、無陽光直接照射或其他熱源直接輻射

6、周圍無強烈氣流，當周圍空氣需強烈流動時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上

7、周圍無強電磁場影響

高低溫試驗箱冷熱沖擊試驗機

本設(shè)備滿足：

1、驗收標準：國家相關(guān)標準要求或雙方簽訂《技術(shù)參數(shù)協(xié)議書》

2、GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
3、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4、GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
5、GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
6、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
7、GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
8、GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法
9、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
10、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
11、GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
12、GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法
13、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則