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Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
電子元件快速溫變試驗箱,循環(huán)測試設(shè)備該設(shè)備主要用于電子元件研發(fā)階段的耐溫性能驗證,幫助工程師發(fā)現(xiàn)熱設(shè)計缺陷;在生產(chǎn)環(huán)節(jié)可對元件進(jìn)行批量循環(huán)老化測試,篩除早期失效品;質(zhì)檢階段能通過模擬實際使用環(huán)境的溫度循環(huán),驗證元件的可靠性等級。此外,還適用于科研機構(gòu)研究電子元件的熱失效機理,以及汽車電子、航空航天等對環(huán)境適應(yīng)性要求嚴(yán)苛的領(lǐng)域。
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電子元件快速溫變試驗箱,循環(huán)測試設(shè)備
一、產(chǎn)品詳情
電子元件快速溫變試驗箱,循環(huán)測試設(shè)備
三、技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:-50℃~180℃(可定制更寬范圍)
溫變速率:升溫 / 降溫速率 5℃/min~30℃/min(可調(diào))
溫度均勻度:≤±1.5℃(空載狀態(tài))
循環(huán)次數(shù):可設(shè)定 1~9999 次自動循環(huán)
溫度波動度:≤±0.5℃
工作室尺寸:標(biāo)準(zhǔn)型 600mm×600mm×600mm(可定制)
工作室:316L 不銹鋼(耐高低溫、抗腐蝕)
保溫層:聚氨酯泡沫(導(dǎo)熱系數(shù)≤0.025W/m?K)
外殼:冷軋鋼板(表面環(huán)氧樹脂噴涂)
五、溫度控制系統(tǒng)
C
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