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產(chǎn)品展示/ Product display
立式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 實(shí)用 大氣 電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
2025-03-21
SMC-100PF
326
可程式 恒溫恒濕箱 電子產(chǎn)品 適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn),以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備。
2025-03-21
SMC-100PF
314
恒溫恒濕試驗(yàn)箱 電子元器件長(zhǎng)期耐環(huán)境性能專為電子元器件長(zhǎng)期耐環(huán)境性能測(cè)試設(shè)計(jì),旨在模擬高溫、低溫、高濕、低濕等復(fù)雜環(huán)境,精準(zhǔn)測(cè)試電子元器件在長(zhǎng)期環(huán)境作用下的性能穩(wěn)定性與可靠性。適用于電阻、電容、集成電路、傳感器等各類電子元器件,可有效檢測(cè)元器件在不同溫濕度環(huán)境下的電氣參數(shù)變化、材料老化、絕緣性能下降、焊點(diǎn)失效等潛在問(wèn)題,幫助企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)驗(yàn)證產(chǎn)品設(shè)計(jì)合理性,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
2025-05-26
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高校恒溫恒濕試驗(yàn)箱:濕熱環(huán)境基礎(chǔ)研究設(shè)備本試驗(yàn)箱專為高校科研與教學(xué)打造,適配材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等多學(xué)科濕熱環(huán)境研究。在材料領(lǐng)域,可模擬不同溫濕度加速金屬腐蝕、高分子材料降解,助力老化機(jī)理探究;生物學(xué)實(shí)驗(yàn)中,精準(zhǔn)調(diào)控溫濕度為微生物培養(yǎng)、植物生長(zhǎng)提供穩(wěn)定環(huán)境;化學(xué)實(shí)驗(yàn)里,支持濕度敏感型反應(yīng)研究;還能用于電子產(chǎn)品、食品包裝的濕熱耐受性測(cè)試,為學(xué)術(shù)研究與教學(xué)實(shí)踐筑牢環(huán)境基礎(chǔ)。
2025-05-26
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電池儲(chǔ)能恒溫恒濕試驗(yàn)箱專為電池研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)檢環(huán)節(jié)設(shè)計(jì),用于模擬電池在不同氣候條件下的儲(chǔ)存、充放電環(huán)境??删珳?zhǔn)控制溫度、濕度,滿足鋰離子電池、鉛酸電池、鈉電池等各類電池在高溫、低溫、高濕、低濕環(huán)境下的性能測(cè)試需求。幫助企業(yè)與科研機(jī)構(gòu)研究電池在環(huán)境下的容量衰減、充放電效率變化、安全性表現(xiàn)及壽命周期,助力優(yōu)化電池材料配方、改進(jìn)生產(chǎn)工藝、提升電池儲(chǔ)能系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性。
2025-05-26
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PCB 線路板恒溫恒濕試驗(yàn)箱專為 PCB 線路板研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量檢測(cè)設(shè)計(jì),用于模擬高溫、高濕、低溫、低濕等復(fù)雜環(huán)境,評(píng)估線路板在不同溫濕度條件下的性能表現(xiàn)??蓽y(cè)試線路板的耐濕性、耐腐蝕性、絕緣性能及材料膨脹收縮對(duì)線路連接的影響,幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)因環(huán)境因素導(dǎo)致的線路短路、焊點(diǎn)開裂、基材變形等潛在問(wèn)題,為 PCB 線路板材料選型、工藝優(yōu)化及質(zhì)量控制提供可靠數(shù)據(jù)支持。
2025-05-26
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?顯示器恒溫恒濕試驗(yàn)箱 水汽侵入檢測(cè)設(shè)備用于模擬高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜環(huán)境,精準(zhǔn)檢測(cè)顯示器在不同溫濕度條件下的水汽侵入情況。可有效評(píng)估顯示器密封膠條的防水性能、顯示屏與邊框的貼合密封性、電路板防潮能力,以及屏幕內(nèi)部光學(xué)材料的耐水侵蝕性,幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷,優(yōu)化設(shè)計(jì)與制造工藝,確保顯示器在潮濕多雨、高溫悶熱等惡劣環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行,提升產(chǎn)品可靠性與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
2025-05-26
337
立式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 低功耗長(zhǎng)時(shí)運(yùn)行專為長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定環(huán)境測(cè)試需求設(shè)計(jì),采用立式緊湊結(jié)構(gòu),有效節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間,同時(shí)滿足大尺寸樣品的測(cè)試需求。設(shè)備以低功耗、長(zhǎng)時(shí)運(yùn)行為核心優(yōu)勢(shì),搭載節(jié)能技術(shù)與高效溫控系統(tǒng),在 - 40℃~150℃寬溫域、20%~98% RH 濕度范圍內(nèi),實(shí)現(xiàn)高精度環(huán)境模擬,且能耗較傳統(tǒng)設(shè)備降低 30% 以上。無(wú)論是電子元器件的可靠性驗(yàn)證,還是藥品、食品的穩(wěn)定性測(cè)試。
2025-05-27
SMA-150PF
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